Im Labor für Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) können folgende Analysen durchgeführt werden: Isotopenanalysen, Spurenelemente, Geochronologie, Imaging, Depth Profiling, Partikelanalysen.

Ausstattung: fully equipped, large geometry SIMS instrument und zugehörge Instrumente

Die PISA-Einrichtung kombiniert die modernsten Bildgebungs- und Spektraltechnologien für alle Arten von Forschungsanwendungen. Es besteht aus einer Reihe von Elektronenmikroskopen mit verschiedenen Detektoren einschließlich EBSD und EDS, und optischen Mikroskopen.